3次元X線自動検査装置

近年の高密度実装化に伴い、BGA、CSPの多用、また、両面実装基板が増加しています。それらのすべての各半田接合部を検査する場合、光学的外観検査装置では不可能で、X線装置を用いるしか検査方法がありませんが、2次元の画像においては両面実装基板の場合、裏面実装部品が重なり、BGAなどの各ボール接合部の検査が困難となります。
そこでTeradyne社では、3次元X線動検査システムXStation MX™ をリリースしました。XStation MX はClearVue™と呼ばれる特許技術により、これまでの3次元X線自動検査装置のシステムの複雑さを解消すると共に、Off-Center トモシンセシスを用い画期的で良質な画像により不良摘出率向上と擬似不良率減少を実現いたしました。 また、これまでの3D技術と異なり、システム動作の複雑さを解消することに伴い、装置故障率も飛躍的に低減いたしました。

Best in Test 受賞
2006 Best in Test: X-Ray Inspection
(米国 Test&Measurement worldサイト)
Teradyne社のアセンブリテスト部門は、Test & Measurement World誌より、革新的なClearVue 3次元X線検査技術に対して、”Best in Test”賞を受賞致しました。 毎年、市場に重要な技術的革新を提供するテスト産業製品に対する有名な賞で、2006年2月9日のカリフォルニアのアナハイムでAPEX Conferenceと展示会で開かれる式典で贈られました。
主な特徴
- 高画質、高解像度
固定したX線管及びディテクタにてマルチアングル画像を取得し、再建することにより高画質、高解像度の画像を実現いたします。 - 自動的にスライス部分を設定し測定
- 大型FOV(Field of View)を使用した2次元検査
2次元検査の併用により、スループットの大幅な向上を実現いたしました。 - AXIプロセスモニタリング機能
修理検査モジュール、統計処理コントロールモジュール(オプション)により、総合的なAXIのプロセスモニタリング機能を提供いたします。 - 虚報率の低下
X線管及びディテクタが固定されていること、アベレージングを行わないことにより、虚報率は500ppmJ以下です。 - 3D画像取得時、稼動部の少ない構造で低故障率での運用が可能
- 高速スループットにて3次元自動検査
- インライン型メインシャーシ
ClearVue™
ClearVueは、CTスキャンに類似した計算の技術を使用して3Dスライスを再建するために複数の斜めからの静的画像を撮ります。
ClearVueは、大型FOV(Field of View)により最大のスループットを提供します。
ClearVueは、不良発見誤り率低減と最大の不良検出率を考慮に入れて、イメージ搾取の間、動作しての画像取得機構がなく、また基板を動かしません。
シンプルなメカ(イメージキャプチャの間、可動しない)は、より高い信頼性を確保します。
3Dスライス画像取得方法
下図のとおり、X-Yテーブルを移動して対象エリア対する縦横斜めの画像を8種類取得後、CTにより任意の高さスライス画像を再建し、自動高さを決定し、自動検査を実施します。


2D画像取得方法
TraX™
2D画像取得時はディテクタとX線がZ軸方向に移動し、4.4インチ角の広視野にて自動検査を実施します。

スライス画像例
同じサイズ・パッケージのBGAが、基板の表裏共に配置されている場合

2D画像の場合
この画像ではどちらの面のブリッジが発生しているか不明です。
裏面スライス画像
裏面にはブリッジが無いことが判明します。
表面スライス画像
表面の半田不足のボールとブリッジ不良が存在することが判明します。
カタログダウンロード
| カタログ | サイズ | ダウンロード |
|---|---|---|
| XStation MX 日本語カタログ (2007/04/01) | 3.43MB |
